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油品元素分析儀

超低矽分析儀DUBHE-1430

發布時間:2018-11-30點擊量:4
超低矽分析儀DUBHE-1430

能夠準確檢測汽油中矽含量的單波長色散X射線熒光光譜儀

汽油在煉製過程中使用了含矽的試劑或催化劑,這些矽化合物在汽車發動機中無法完全燃燒,時間一長矽的沉積物會造成氧氣傳感器失效等故障,因此汽油中矽元素的檢測被列入國家標準製定範圍之列。

針對矽元素的檢測儀器,主要有ICPXRF兩種方法,相比於ICP方法,XRF方法使用方便,無需專業經驗人員即可操作使用,單波長色散X射線熒光光譜儀(MWD XRF)更具有高靈敏度以及長期穩定性等特點,是輕鬆應對超低矽含量分析的利器。

依賴高通量雙向曲麵彎晶核心技術,進一步提升製造工藝,保證光路係統的精密度,真正能夠將矽檢出限降低到1PPM以內的X射線熒光光譜儀。

比較項

ICP

MWD XRF(DUBHE-1430)

原理

電感耦合等離子體發射光譜儀

單波長色散X射線熒光光譜儀

消耗

高純氬氣、吹掃用高純氮氣、矩管,消耗約1000元/天

無需鋼瓶氣體

樣品杯與樣品膜,消耗4元/樣品

結果準確性

影響因素:氣體純度、燃燒充分性、光柵移動重複性、幹擾元素共存譜線

隻針對矽元素進行高靈敏度檢測,無任何元素譜線幹擾

操作方便性

需要有經驗的操作人員,對測試數據有解析能力

使用方便,步驟簡單,無需經驗即可操作,操作者對測量結果無影響

檢出限

矽方法檢出限~0.15PPM

矽方法檢出限~0.6PPM

 

    ICPMWD XRFDUBHE-1430)比較表

測量原理:單波長色散X射線熒光光譜儀

Monochromatic Wavelength Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer(MWD XRF)

符合標準:ASTM D7757

產品特點:

  • 靈敏:高選擇性檢測矽元素,檢測限達到0.6PPM,是針對矽元素非常靈敏的X射線熒光光譜儀

  • 穩定:XFS(X-Ray Fixed System)專利技術,光路工廠精密調諧後,不再產生位移或偏 差,保證了儀器的長期穩定性。5PPM汽油樣品,長期測試RSD值小於7%

  • 快速:單個樣品準備時間小於10秒鍾;單個樣品分析時間最長1000秒;開機10分鍾內即可測試樣品

  • 經濟:單個樣品消耗小於4元/樣品,無氣體、溶劑等消耗

  • 方便:使用ESP:Easy Sample Prepare裝置,使得樣品杯與膜成型變得簡單;長時間使用無硬件更換;無需經常校正標準曲線

性能指標:

  1. 檢出限:0.6PPM(異辛烷基體中矽)

  2. 準確度:2PPM±0.6PPM,5PPM±0.8PPM,10PPM±1PPM

  3. 穩定性:5PPM標樣連續測試15次,RSD值15%以內

  4.  線性:0、1、2、5、10、50PPM矽標樣,線性99.9%以上

  5. 測試時間:500秒—1000

應用領域:

汽油、柴油樣品中矽含量分析,煉油企業催化劑中矽含量分析,液體或固體中矽含量分析。

 

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